深度分析

深度分析是得到深度(X軸)與濃度(Y軸)的關係圖。可以經由持續監控特定元素的深度(例如SIMS)來獲得,或是通過去除材料、測量然後重複這個過程(例如XPS或者Auger)來逐步獲得它們。對於需要分析的層的厚度和偵測極限是幫樣品選擇最佳分析技術的重要因素。

如果沒有正確地完成分析,就可能會基於測量上的複雜性而給深度分析帶來瑕疵和錯誤。根據先前在許多樣品類型上積累的多年經驗,EAG對於優化條件,避免不必要的瑕疵,進而獲得深度分析,有深入徹底的理解。

深度剖析

首要技術

其次技術