材料表面分析、材料分析 、可靠度測試、失效分析｜EAG分析集團經營團隊

Patricia M. Lindley博士

執行副總裁，表面分析和材料表徵

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 Charles W. Magee博士

首席科學家

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Sanjay Patel博士

亞利桑那州分析服務主管

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Thomas Fister博士

高級主管，分析服務，加利福尼亞州

Jeff Shallenberger博士

分析服務主管，麻塞諸塞州和新澤西州

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John G. Newman先生

分析服務主管，明尼蘇達州

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Karol Putyera博士

副總裁，輝光放電質譜分析服務，紐約

Aaron Cassely先生

吉莫，分析服務高級主管

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Dr. Arun Kumar

Vice President, SEAL Laboratories

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Tim Chang 先生

銷售主管，埃文斯臺灣有限責任公司

Kazue Shingu女士

管理主管，Nano科學社團，日本

Nicole Cuq女士

總經理，埃文斯分析集團，SAS

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Sukanta Biswas博士

技術主管，歐洲

Larry Wang博士

副總裁，分析服務，Cameca次級離子質譜法

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Temel Buyuklimanli博士

高級主管，Quad次級離子質譜法

Yumin Gao博士

高級主管，III-V Cameca次級離子質譜法