IGA(儀器氣體分析)

儀器氣體分析IGA(儀器氣體分析)測量氣體形成的元素(C,H,O,N,S)在固體樣品中的含量,濃度範圍從ppm到百分比。將固體樣品置於高溫爐快速加熱,進而將某些元素轉化為揮發性的型態,以分離並測量它們。

C和S的測量是使用燃燒和紅外線偵測,其分析方法是將固體樣品放置在氧電漿(2000ºC以上)中燃燒被完全氧化。樣品被置於加熱的高頻感應爐陶瓷坩堝中。樣品燃燒會釋放各種氣體,這些氣體可以通過四種紅外偵測器來測量。SO2的分析可以確定硫含量,CO和CO2的分析則能確定碳含量。

利用惰性氣體熔融或者固體載體氣體排熱可以測量N、O和H。將樣品置於石墨坩堝中,並插入一個被夾在兩個電極之間的爐子中。用惰性氣體(He或Ar)清洗後,一個高電流通過坩堝,使溫度提高(2500ºC)。在爐子中產生的任何氣體(包括CO、CO2、N2和H2)都會受到流動的惰性氣體流牽引,被引導進入適當的偵測器中:使用紅外測量CO的O含量,或者通過TCD測定N和H的熱導性。使用已知的參考材料進行儀器校準。

對於利用GDMS、IGA、ICP-OES或LA-ICP-MS分析進行痕量元素分析來說:

EAG(紐約)--樣品送件表(英文,pdf)
EAG SAS(法國)--樣品送件表(英文,pdf)
EAG SAS(法國)--樣品送件表(法文,pdf)

  • 測量固體、粉末或者微粒材料中H, C, S, N, O含量
  • 定量分析部分氣體的C, H, O, N, S
  • 區分表面和塊材的H, O, N濃度

偵測訊號:紅外吸收以及/或者熱導性

偵測元素:H, C, N, O, S

偵測限制條件:ppm

深度解析度:塊材技術

  • 準確測定氣體形成元素分析,範圍為ppm到wt%
  • 利用溫控程式和反應劑可以提供H和O環境資訊(表面或者塊材)
  • 需要使用大量樣品(10 mg到g的範圍)
  • 濺射靶
  • 半導體材料生產製造
  • 鋼鐵產業
  • 金屬合金
  • 粉末冶金
  • 化學品(催化劑)