ICP-OES/MS(感應耦合電漿原子發射光譜儀/質譜)

ICP(感應耦合電漿)分析技術可以定量測量材料的元素含量,範圍為ppt到wt%。只有C, H, O, N和鹵素不適用ICP測量。

固體樣品會被溶解或者消化在液體中,通常是酸性水溶液。

將樣品溶液噴入感應耦合電漿的核心中,電漿溫度高達8000°C,在這樣的高溫下,所有的分析物種都會被原子化、離子化和熱激發,然後它們可以被OES或MS偵測和定量。

ICP-OES vs ICP-MS: 兩種技術的比較

ICP-OES可以測量從熱激發分析離子的特定元素特性波長發射的光。這種發射光可以在分光計中分離和測量強度,通過和校正標準品進行比對,轉換為元素濃度。

 感應耦合等離子體發射光譜/品質光譜測定分析法
 感應耦合等離子體發射光譜/品質光譜測定分析法

 

 

ICP-MS可以測量由高溫氬離子電漿產生的元素離子質量。在電漿中產生的離子依據其荷質比分離,使未知材料可以被識別和定量。ICP-MS可以對各種不同的元素提供極高的靈敏度(即低偵測極限)。

 

對於利用GDMS、IGA、ICP-OES或LA-ICP-MS分析進行痕量元素分析來說:

EAG(紐約)--樣品送件表(英文,pdf)
EAG SAS(法國)--樣品送件表(英文,pdf)
EAG SAS(法國)--樣品送件表(法文,pdf)

  • 大量、微量和痕量元素的塊材定量調查分析
  • 對於各種不同材料的大量和微量元素的高準確度測定
  • 品質控制和製程控制

偵測訊號:光子(OES)或者離子(MS)

偵測元素:最多70種元素

偵測限制條件:ppb

深度解析度:塊材技術

影像/mapping:

  • 使用單一分析方法可以測定許多元素(最多70種)。
  • 有用的工作範圍為幾個數量級
  • 可以自動化測量,進而提高準確度、精確度和產量。
  • 將ICP-OES和ICP-MS結合起來是測量廣泛元素的濃度是非常有效的分析技術,在測量主要成分可以達到非常低的程度(通常是~ppb),同時具有高準確度和高精確度。
  • 為了分析感興趣的元素,在進行分析之前,必須要將分析的樣品完全消化。
  • 如果感興趣的波長非常接近其他元素的波長,發射光譜就變得非常複雜,而且可能會有元素干擾。
  • 在質譜中,主要的基質元素以及其他的分子種類會干涉某些元素的測量。
  • 帶有多電子或多原子的離子種類會造成定量上的困難。
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