技術領導能力

Temel Büyüklimanli博士 Temel Büyüklimanli博士
高級主管
四極次級離子質譜法

1992-1994年,Büyüklimanli博士成為了賓夕法尼亞州大學,賓夕法尼亞州州立大學材料表徵實驗室的研究科學家;1994年,Büyüklimanli博士加入了埃文斯分析集團,任職次級離子質譜法分析師。Büyüklimanli博士畢業于土耳其安卡拉的中東技術大學,獲得物理學理學學士學位。1988年和1992年,他分別從佛羅里達大學物理和材料科學與工程系獲得碩士學位和博士學位。

Büyüklimanli博士已經撰寫了幾篇有關陶瓷和半導體材料表面表徵的論文,並發表過數次演講。他已經和其他的次級離子質譜法科學家開展合作,以開發新的分析技術來解決新興的半導體技術需求的問題。大部分重要的PCOR-SIMSSM協議包括ULE灌輸、SiGe和 III-V材料的精確的摻雜/雜質和合成物表徵。他領導專案,使用全新的軟體來開展精密的次級離子質譜法資料處理,這種方法目前正應用於埃文斯分析集團四極次級離子質譜法集團。他的現有研究內容包括使用PCOR-SIMSSM為超淺摻雜劑分配,多種成分材料結構,摻雜劑、雜質和矩陣濃度以及層厚精確表徵開發全新的方法。目前,他是四極次級離子質譜法集團的主管,以及埃文斯分析集團的科學會員。