Auger理論

簡介

Auger電子能譜(AES)可以通過測量Auger電子的能量來鑑定表面的元素組成。通過用電子束轟擊樣品來激發Auger電子發射。Auger電子能量是電子所帶來的元素特性。AES在表面、薄膜和界面分析中是廣泛使用的方法。

儘管這兩種方法都已經過時,但是有兩個良好的參考文獻:

  • Photoelectron and Auger Spectroscopy, T. A. Carlson (Plenum Press, New York, 1975)
  • Methods of Surface Analysis, A. W. Czanderna, ed. (Elsevier, New York, 1975)